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Cálculos de Incerteza

O CalibraFácil realiza os cálculos de incerteza de medição seguindo rigorosamente o GUM (JCGM 100:2008) — o guia internacional para expressão de incerteza de medição. Esta página explica a metodologia utilizada nos cálculos, permitindo que responsáveis técnicos e gerentes da qualidade compreendam e validem os resultados apresentados nos certificados.


O sistema implementa o método de Propagação de Incertezas conforme descrito no GUM, combinando avaliações Tipo A e Tipo B para obter a incerteza expandida do resultado de medição.

Para calibrações com séries de leituras repetidas, o sistema calcula automaticamente:

Média aritmética:

xˉ=1ni=1nxi\bar{x} = \frac{1}{n} \sum_{i=1}^{n} x_i

Desvio padrão experimental:

s=1n1i=1n(xixˉ)2s = \sqrt{\frac{1}{n-1} \sum_{i=1}^{n} (x_i - \bar{x})^2}

Incerteza padrão da média:

uA=snu_A = \frac{s}{\sqrt{n}}

Com graus de liberdade νA=n1\nu_A = n - 1.

Para contribuições de incerteza provenientes de certificados de calibração, especificações do fabricante ou resolução do instrumento, o valor informado é convertido em incerteza padrão utilizando o divisor da distribuição correspondente:

uB=adu_B = \frac{a}{d}

Onde aa é o valor informado e dd é o divisor da distribuição.

DistribuiçãoDivisor (dd)Quando usar
Normalkk (fator de abrangência)Certificados de calibração que informam incerteza expandida com fator kk
Retangular31,732\sqrt{3} \approx 1{,}732Resolução, especificações do fabricante, tolerâncias
Triangular62,449\sqrt{6} \approx 2{,}449Quando valores centrais são mais prováveis
U-shaped21,414\sqrt{2} \approx 1{,}414Histerese, variações cíclicas

Quando o certificado do padrão informa uma incerteza expandida UU com fator kk, o sistema converte automaticamente: uB=U/ku_B = U / k.

Os componentes de incerteza Tipo B são configurados no Construtor de Métodos.

Todas as contribuições são combinadas pela soma em quadratura (RSS), conforme a Equação 10 do GUM:

uc(y)=i=1N[ciu(xi)]2u_c(y) = \sqrt{\sum_{i=1}^{N} \left[ c_i \cdot u(x_i) \right]^2}

Onde cic_i são os coeficientes de sensibilidade (padrão: ci=1c_i = 1).

Para garantir a cobertura correta — especialmente com amostras pequenas — o sistema calcula os graus de liberdade efetivos pela fórmula de Welch-Satterthwaite:

νeff=uc4(y)i=1N[ciui(y)]4νi\nu_{\text{eff}} = \frac{u_c^4(y)}{\displaystyle\sum_{i=1}^{N} \frac{\left[ c_i \cdot u_i(y) \right]^4}{\nu_i}}

O resultado é arredondado para baixo (conservador), conforme prática metrológica.

A incerteza expandida é calculada como:

U=k×ucU = k \times u_c

O fator kk não é fixo em 2,0. O sistema determina kk consultando a tabela t-Student com base nos graus de liberdade efetivos e no nível de confiança selecionado.

Níveis de confiança disponíveis:

Probabilidadekk para ν\nu \to \inftyUso
95,00%1,961{,}96Comum em algumas aplicações
95,45% (padrão)2,002{,}00Padrão em laboratórios de calibração
99,00%2,5762{,}576Alta confiança

Extrato da tabela t-Student (95,45%):

νeff\nu_{\text{eff}}kk
113,97
24,53
33,31
52,65
102,28
202,13
502,05
500\geq 5002,00

O sistema reconhece e converte automaticamente unidades para o Sistema Internacional (SI), reduzindo erros de conversão manual.

Exemplo de entradaConversãoUnidade SI
500 g0,5kg
10 mm0,01m
200 mbar20000Pa

Grandezas suportadas: massa, comprimento, temperatura, pressão, volume e grandezas elétricas.


Em conformidade com boas práticas metrológicas, as seguintes limitações são documentadas:

  1. Correlação: O cálculo assume independência entre as fontes de incerteza (r=0r = 0). Para casos com correlação significativa, ajuste o orçamento de incerteza no método.
  2. Níveis de confiança: São suportados 95%, 95,45% e 99%.
  3. Graus de liberdade: Para νeff500\nu_{\text{eff}} \geq 500, a distribuição tt é tratada como normal (k=2,0k = 2{,}0 para 95,45%).

  1. JCGM 100:2008 (GUM): Evaluation of measurement data — Guide to the expression of uncertainty in measurement.
  2. JCGM 200:2012 (VIM): International vocabulary of metrology — Basic and general concepts and associated terms.
  3. ISO/IEC 17025:2017: General requirements for the competence of testing and calibration laboratories.